Measurement of electrical double layer potential for oxides by means of semiconductor field-effect. Pomiary potencjału elektrycznej warstwy podwójnej dla tlenków przy użyciu tranzystora polowego (in Polish)
 
More details
Hide details
1
Forschungsinstitut fur Aufbereitung, NRD
Publication date: 1980-01-01
 
Physicochem. Probl. Miner. Process. 1980;12(1):58–68
 
eISSN:2084-4735
ISSN:1643-1049