Articles by Christoph Cichos
 

Measurement of electrical double layer potential for oxides by means of semiconductor field-effect. Pomiary potencjału elektrycznej warstwy podwójnej dla tlenków przy użyciu tranzystora polowego (in Polish)
Christoph Cichos, Thomas Geidel
Physicochem. Probl. Miner. Process. 1980;12(1):58–68
 
Stats
Article (PDF)
 
Sign up for email alerts
 
Events
Most read
Indexes
 
Keywords index
Topics index
Authors index
eISSN:2084-4735
ISSN:1643-1049
Copyright © 2006-2021 Bentus All rights reserved.