Zastosowanie mikroskopii AFM w analizie topografii powierzchni podczas anodowego roztwarzania siarczku miedzi (I) (in Polish)
 
More details
Hide details
1
Akademia Górniczo-Hutnicza
 
2
Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni PAN
 
 
Publication date: 1998-01-01
 
 
Physicochem. Probl. Miner. Process. 1998;32(1):215-225
 
ABSTRACT
Elektrolityczne roztwarzanie anod z siarczku miedzi (I) (Cu2S) prowadzi do zmian składu fazowego warstw powierzchniowych elektrody. W trakcie przebiegu reakcji na anodzie pojawia się siarczek miedzi (II) (CuS) a następnie siarka elementarna. Roztwarzanie Cu2S i CuS biegnie przy innych parametrach elektrolizy. Zmiany składu fazowego powodują zmiany wyglądu powierzchni elektrody. Zmiany te badano w zależności od stosowanej anodowej gęstości prądowej stosując mikroskop AFM. Stwierdzono, że stopień rozwinięcia powierzchni charakteryzowany przez jej szorstkość zmniejsza się wraz z obniżaniem anodowej gęstości prądowej. Dla tego heterogenicznego w obrębie fazy stałej układu spowodowane jest to prawdopodobnie różnicami szybkości biegu równoległych reakcji anodowego roztwarzania Cu2S i CuS w zależności od stosowanej anodowej gęstości prądu. Przy niskich gęstościach prądu szybkości roztwarzania obu siarczków są porównywalne. W wyniku stosowania wysokich gęstości prądu następuje zatrzymanie biegu reakcji w momencie pojawienia się na powierzchni warstewki CuS. Bardzo niska szybkość jej roztwarzania w tych warunkach powoduje skok potencjału elektrody.
eISSN:2084-4735
ISSN:1643-1049
Journals System - logo
Scroll to top